申请/专利权人:中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日:2022-09-01
公开(公告)日:2024-03-08
公开(公告)号:cn117672826a
主分类号:h01l21/18
分类号:h01l21/18;h01l21/60
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.03.08#公开
摘要:一种封装方法,包括:提供多个晶圆,晶圆包括键合面,晶圆包括第一晶圆和第二晶圆;在晶圆背向键合面的面形成应力平衡层,用于平衡晶圆的应力,所述应力包括拉应力或压应力;将第一晶圆与第二晶圆相键合,第一晶圆的键合面与第二晶圆的键合面相对设置;将第一晶圆与第二晶圆相键合后,去除应力平衡层。本发明提高了封装可靠性。
主权项:1.一种封装方法,其特征在于,包括:提供多个晶圆,所述晶圆包括键合面,所述晶圆包括第一晶圆和第二晶圆;在所述晶圆背向所述键合面的面形成应力平衡层,用于平衡所述晶圆的应力,所述应力包括拉应力或压应力;将所述第一晶圆与所述第二晶圆相键合,所述第一晶圆的键合面与所述第二晶圆的键合面相对设置;将所述第一晶圆与所述第二晶圆相键合后,去除所述应力平衡层。
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