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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

申请日:2022-08-10

公开(公告)日:2024-03-08

公开(公告)号:cn117677204a

主分类号:h10b80/00

分类号:h10b80/00;h01l23/50

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.08#公开

摘要:本公开实施例涉及半导体领域,提供一种半导体结构、半导体结构的制造方法和半导体器件,半导体结构包括:基板,所述基板具有凹槽和供电引脚;存储模块,位于所述凹槽内;所述存储模块包括在第一方向堆叠的多个存储芯片,所述第一方向平行于所述凹槽的底面;每个所述存储芯片内具有供电信号线,所述多个存储芯片中的至少一者具有供电布线层,所述供电布线层与所述供电信号线电连接;导电部,与所述供电布线层和所述供电引脚相连。本公开实施例至少可以提高半导体结构的性能。

主权项:1.一种半导体结构,其特征在于,包括:基板,所述基板具有凹槽和供电引脚;存储模块,位于所述凹槽内;所述存储模块包括在第一方向堆叠的多个存储芯片,所述第一方向平行于所述凹槽的底面;每个所述存储芯片内具有供电信号线,所述多个存储芯片中的至少一者具有供电布线层,所述供电布线层与所述供电信号线电连接;导电部,与所述供电布线层和所述供电引脚相连。

全文数据:

权利要求:

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