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申请/专利权人:深圳中科飞测科技股份有限公司

申请日:2022-08-22

公开(公告)日:2024-03-08

公开(公告)号:cn117664993a

主分类号:g01n21/89

分类号:g01n21/89;g01n21/01;g01b11/06;g01b11/04;g01b11/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.08#公开

摘要:本申请公开一种检测设备,包括:机台;可转动地设置于机台上的第一料盘,第一料盘上设置有若干用于承载待测产品的第一工装;环绕第一料盘布置的第一相机组件和第二相机组件,第一相机组件用于待测产品的镭射检测和高度检测,第二相机组件用于待测产品的外表面缺陷检测;可转动地设置于机台上的第二料盘,第二料盘上设置有若干用于承载待测产品的第二工装;以及,环绕第二料盘布置的第三相机组件、第四相机组件和第五相机组件,第三相机组件用于待测产品的下端面缺陷检测;第四相机组件用于待测产品的内表面缺陷检测;第五相机组件用于待测产品的上端面缺陷检测和长宽检测,可以快速、准确地对待测产品进行全面检测,满足现代化生产需求。

主权项:1.一种检测设备,包括:机台;可转动地设置于所述机台上的第一料盘,所述第一料盘上设置有若干第一工装,每一所述第一工装用于承载一待测产品;环绕所述第一料盘布置的第一相机组件和第二相机组件,所述第一相机组件用于待测产品的镭射检测和高度检测,所述第二相机组件用于待测产品的外表面缺陷检测;可转动地设置于所述机台上的第二料盘,所述第二料盘上设置有若干第二工装,每一所述第二工装用于承载一待测产品;以及环绕所述第二料盘布置的第三相机组件、第四相机组件和第五相机组件,所述第三相机组件用于待测产品的下端面缺陷检测;所述第四相机组件用于待测产品的内表面缺陷检测;所述第五相机组件用于待测产品的上端面缺陷检测和长宽检测。

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